介電常數的影響

  低介電常數和變介電常數的被測介質(zhì)，優(yōu)選導波雷達。低介電常數液體介質(zhì)反射信號弱，信號衰減嚴重，物位波動(dòng)和泡沫散射引起信號減弱，罐內障礙物反射引起虛假信號，為此就需要發(fā)射較強的電磁波信號，并采用功能強的微處理器進(jìn)行復雜的信號處理。

  導波雷達和常規雷達一樣，采用傳輸時(shí)間來(lái)測量介質(zhì)物位，信號自烴類(lèi)[介電常數2~3]液體表面或自水[介電常數80]面反射回傳的時(shí)間一樣的，不同的只是信號幅度[強度]的差別。

  普通雷達須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識返回的各種信號，從雜散信號中檢出真正的物位信號，而導波雷達僅需測量電磁波的傳輸時(shí)間即可，無(wú)需信號的處理和辨別。

固體物料測量

  對于粉狀物料，可以選擇纜式導波雷達。由于微波在鋼纜中傳輸，物料在輸送過(guò)程中產(chǎn)生的粉塵對測量沒(méi)有影響。閃速爐的精礦、石英、粉煤均采用纜式導波雷達，測量效果良好。對于顆粒狀或塊狀物料，須選用高頻雷達物位計。而且微波的發(fā)射角愈小愈好。因為微波的頻率越高，微波的波長(cháng)越短，保證發(fā)射出去的雷達波能夠在粗糙的固體表面最大程度地被反射回雷達探頭，發(fā)射角愈小，形成雜波和漫發(fā)射的概率就越小。

液體、物位的測量

  對于液面相對平穩的罐體，且被測液體的介電常數較高，可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動(dòng)大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數較低，應優(yōu)選導波雷達。因為導波管對液面有整型作用，且導波雷達的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。

  被測液體的介電常數和密度變化對測量結果沒(méi)有影響。對于被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強的情況，不能選擇導波管方式測量，因為粘附和結晶會(huì )堵死導波管，從而形成虛假物位，這樣就可以選擇導波桿方式來(lái)測量。

  當介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時(shí)，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無(wú)影響；但橋接性涂污的形成卻能導致明顯的測量誤差，當塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結于波導體上或橋接于兩個(gè)波導體之間時(shí)，就會(huì )在該點(diǎn)測得虛假物位。

  近年來(lái)，中國經(jīng)濟迅速發(fā)展，石油、化工、醫藥、食品等過(guò)程工業(yè)領(lǐng)域對雷達物位計的需求也將越來(lái)越大。西森AD110系列高頻雷達物位計——具有完全自主知識產(chǎn)權雷達物位計的面世，為國內外用戶(hù)提供了更大的選擇空間，也為企業(yè)優(yōu)化成本、合理配置資源提供了更大的方便。